半導體製造及封裝 > 儀器 > 材料表面力學分析 > Anton Paar TriTec SA (CSM) > 奈米/微米/大載荷 精密劃痕測試儀
產品特色
AntonPaar TriTec (CSM) 划痕測試儀器專門用於薄膜材料的機械性質定量量測:膜基結合強度、塗層失效形式以及基體變形尺度等。是薄膜品質研究和及品質檢測領域不可或缺的工具。
(1)塗層附著力數據化
(2)提供聲紋,摩擦力,穿透深度等等數據和光學全景影像來判定關鍵載荷
(3)
正向力回饋控制
 ,確保載荷不受樣品形貌影響
(4)專利的全景圖像及前後掃描功能
(5)
多聚焦圖像和全景圖像
(6)
大尺寸平台(300毫米)
(7)
往復模式的磨損量測
(8)
自動化視頻顯微鏡檢查
(9)
無人模式下的多樣品自動測試
(10) ISO
ASTM標準


產品規格  
 
奈米刮痕儀
微米刮痕儀
工業型划痕測試儀
下壓力範圍
0~1000 mNt
0~30 Nt
0~200 Nt 
劃速
0~600 mm/min
0~600 mm/min
0~600 mm/min
最大量測磨擦力
1000 mNt
30 Nt
200 Nt
下壓深度
2 mm
1 mm
1 mm




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