項目 | 規格 |
X射線管 | 鉬/銠/ 鎢/ 銀 (可選),50kV,1mA |
探測器 | SDD(矽漂移探測器) |
解析度 | 125±5eV |
X射線焦斑 | 聚光纖(50~100μm) 0.035mm(可調) |
測量範圍 | 鋁(13)~ 鈾(92) |
樣本類型 | 固體/液體/粉末,多層 |
樣品室尺寸 | 390×410×100mm(寬×深×高) |
主要特徵 | - 自動/手動平臺 - 常規鍍層厚度檢測,銠,鈀,金,銀,錫,鎳- 可測多層薄膜的鍍層厚度(多達5層)- |
Camera properties | 40~80倍 |
安全性 | 3point interlock |
報告類型 | Excel,PDF/輸出自訂表單 |