MENU

  • 產品介紹
    • 半導體及封裝
      • Forge Nano ALD (晶圓鍍膜)
      • Forge Nano ALD (物件鍍膜)
      • Forge Nano ALD (粉末鍍膜)
      • Fastmicro 微塵量測設備
      • AOI 膠材檢查機
      • Electro Scrub
      • Eshylon 暫時性靜電接合
      • HHT 光罩修補設備
      • Innersense 設備振動偵測裝置
      • IRAB (Reflow) Bonding 設備
      • KoCos 晶圓邊緣輪廓測量
      • Levitech 快速昇溫製程 RTP
      • PE 電漿清潔蝕刻設備
      • ProSys 超音波清洗
      • PSM
      • Six Point 氮化鎵晶圓代工
      • TEMIC 桌上型流體SEM及相關配件
    • 電路板
      • ISP X Ray 鍍層測厚分析
      • Glenbrook X-Ray 影像檢測設備
      • Hisense QR code 噴印
      • PDCS 系統
      • PE 電漿清潔蝕刻設備
    • 廠務
      • NG7 Trik Fitting 無塵室廠務配管系統
      • Des-Case 微塵水氣汙染管控
    • 電池&能源
      • ALD氧化鋁原子層鍍膜設備
      • Celgard 鋰電池隔離膜
    • 環安應用
      • Des-Case 微塵水氣污染管控
      • Guardian 石化品洩漏快速吸收
    • 自動化&監控
      • KoCos LoTos 3D建模量測機 ( IIOT 工業4.0)
      • Innersense 設備振動偵測裝置
      • PDCS 監測系統
      • iTAC Software AG
    • 奈米電紡
      • Inovenso 注射泵浦
      • Inovenso 奈米電紡機
    • 噴墨技術
      • Hisense 奈米銀墨水
      • Hisense 噴墨分析及列印設備
      • 奈米導電银漿
    • 量測及檢測
      • ISP X RAY 鍍層測厚分析
      • AOI 膠材檢查機
      • Glenbrook X-Ray 影像檢測設備
      • KD 渦電流塗層膜厚量測儀
    • 中古設備
      • Hitachi 膜厚儀
      • Glenbrook 影像檢測設備
  • 關於我們
  • 最新消息
  • 聯絡我們
  • 服務據點
客服專線 +886-3-656-0883
搜尋
  • EN
  1. Home
  2. 產品介紹
  3. 量測及檢測
  4. KD 渦電流塗層膜厚量測儀
  5. Kart Deutch ECHOMETER 1075系列
  • foto
foto
KD 渦電流塗層膜厚量測儀

Kart Deutch ECHOMETER 1075系列

型號:
創新的雙功能,壁厚和聲速測量儀。具有高科技及時尚的設計以 及合理的價格。操作簡單,藉由簡易的文字顯示,可以容易的測量容器或損傷管道的壁厚。

測量範圍涵蓋0.7至400毫米。(取決於探頭及機型,探頭為選配)。材料聲速範圍在100至20000m/s內,皆可以進行量測。機型包含,

ECHOMETER 1075基本型

ECHOMETER 1075數據型

ECHOMETER 1075 TC
分享至:
  • 產品說明
© 2021 緯利股份有限公司 . All Rights Reserved.
隱私權政策