應用領域

 iEDX-150T鍍層測厚儀應用於金屬電鍍鍍層分析領域;
 
技術指標

多鍍層分析,1~5層;
測試精度:0.001 μm;
元素分析範圍從鋁(Al)到鈾(U);
測量時間:10~30秒;
SDD探測器,能量解析度為125±5eV;
探測器Be窗0.5mil(12.7μm);
微焦X射線管50kV/1mA,鉬,銠靶(高配微焦鉬靶);
6個准直器及多個濾光片自動切換;
 XYZ三維移動平臺,MAX荷載為5公斤;
 高清CCD攝像頭(200萬圖元),準確監控位置;
多變數非線性去卷積曲線擬合;
高性能FP/MLSQ分析;
儀器尺寸:618×525×490mm;
樣品台尺寸:250×220mm;
樣品台移動範圍:前後左右各80mm、高度90mm。
 
圖譜介面

軟體支援無標樣分析;
寬大分析平臺和樣品腔;
整合了鍍層分析介面和合金成份分析介面;
採用多種光譜擬合分析處理技術;
鍍層測厚分析精度可達到0.001μm。
 
分析報告結果

直接列印分析報告;
報告可轉換為PDF,EXCEL格式。