項目 規格
X射線管 鉬/銠/ 鎢/ 銀 (可選),50kV,1mA
探測器 SDD(矽漂移探測器)
解析度 125±5eV
X射線焦斑 聚光纖(50~100μm)                     0.035mm(可調)
測量範圍 鋁(13)~ 鈾(92)
樣本類型 固體/液體/粉末,多層
樣品室尺寸 390×410×100mm(寬×深×高)
主要特徵 - 自動/手動平臺 - 常規鍍層厚度檢測,銠,鈀,金,銀,錫,鎳- 可測多層薄膜的鍍層厚度(多達5層)
Camera properties 40~80倍
安全性 3點聯鎖
報告類型 Excel,PDF/輸出自訂表單